Koormusplaat on pooljuhtide testimisseadmete oluline komponent, mida kasutatakse peamiselt pakendatud laastude funktsionaalseks testimiseks ja jõudluse kontrollimiseks, et tagada kiibid kavandamisstandarditele.
Põhifunktsioonid
Koormusplaat ühendab testimisseadmega kiibi katsepesa kaudu, simuleerib tegelikku tööstsenaariumi, et teha kiibil elektrilise jõudluse testimist ja sõelub puudulikud kiibid.
tehniline nõue
Kiire liidese sobitamine: signaali ülekande stabiilsuse tagamiseks peab kiire liidese kiip vastama rangetele takistuste nõuetele.
Usaldusväärsuse testimine: kontrollige kiibi pikaajalist stabiilsust vananemistestide, näiteks termilise tsükli ja kiirendatud lüliti tsükli abil.
Täppis tootmine: jootepadjade kõrguse erinevust tuleb kontrollida mikromeetri tasemel ja tasapinnale nõuab lõime kiirust alla 0,2%.
Rakenduse stsenaariumid
Kasutatakse peamiselt lõplikus testimisetapis pärast pakendamist vahvli Fab, näiteks sondikaardid pakkimata vahvlite testimiseks, ja koormusplaadid pakendatud laastude funktsionaalseks kontrollimiseks.
Levinud puudused pooljuhtide koormustahvlites
Nagu igal elektroonilisel komponendil, võivad ka pooljuhtide koormuskoormusel olla ka struktuurilised defektid, mis võivad katsepingil töötades nende jõudlust mõjutada, mõjutades sellega IC -testimise tulemusi. Koormusplaadi ühised puudused on järgmised:
lühisaal
avatud vooluring
Pistikupesa ja PCB vahel on defekt
Võrguühendus
Kontaktpesa defekt
Komponendi defektid
Releedefekt
Lekkevool
Et tagada, et testikoormusel ei ole ühtegi ülalnimetatud defekti, tuleb selle jõudlus valideerida enne tootmise testimisplatvormi kasutamist ja kinnitada regulaarsete kontrollide kaudu vältimatute elutsükli tõrgete tuvastamiseks.
Kui nendes komponentides ühte defekti ei tuvastata, mõjutab see IC -testi tulemusi: te ei saa kindlaks teha, kas tõrke tulemus on tingitud testitud komponendi tõelisest defektist või koormusplaadi enda defektist.
Kuidas testida pooljuhtide koormuslaudu
Pooljuhtide koormuse tahvleid testitakse tavaliselt spetsiifiliste diagnostiliste programmide käivitamisega samal pooljuhtide testijal, mis neid kasutab.
Kuigi see lähenemisviis on tavaline, on sellel mitu puudust:
Testimiskulud on suured, kuna kasutatakse kalleid pooljuhtide testijaid (tavaliselt 24 tundi ööpäevas), mis mõjutab nende tootlikkust.
Pikk arengutsükkel diagnostiliseks testimiseks
Ebapiisav diagnostiline võime: pooljuhtide testijatel läbi viidud funktsionaalsed testid ei suuda tuvastada kõiki koormusplaadi võimalikke defekte.
Pikk remondiaeg: defektide tuvastamisel ei saa tester täpseid tõrketeateid esitada. Defektseid komponente ei tuvastatud ja remondijuhendit ei esitatud: Professionaalsed testimisinsenerid peavad koormusplaadi parandamiseks läbi viima ja aeganõudev analüüs
Varjatud rikkeid ei tuvastata: puudused, mis ei mõjuta otseselt koormusplaadi funktsionaalsust, võivad põhjustada tootmise ebastabiilsust või riket.
Nende piirangute ületamiseks ning aja ja raha säästmiseks on soovitatav kasutada konkreetseid testimismeetodeid ja seadmeid, et kinnitada koormusplaadi jõudlust enne selle kasutamist IC -testimisplatvormil.